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       在正常情況，若電容發(fā)生異常情況導(dǎo)致短路，其電流會變大，會導(dǎo)致輸入線路側(cè)的熔斷器熔斷，切斷輸入線路的電源。但從事故的現(xiàn)場考察，當(dāng)時固定電容的輸入線路的3相熔斷器并無熔斷，證明當(dāng)時的電容輸入電流并無過流，或其電流值并未超過配套熔斷器的安秒特性。

       因此，造成此次電容爆裂的主要原因是:電容自身的質(zhì)量缺陷(絕緣紙或鉛箔的質(zhì)量差)、熔斷器的安秒特性與該電容器配置不適當(dāng)。

如下為電容爆裂過程分析:
       單個電力電容器由三個電容器連接成?形，裝在有填料的密封容器中，頂端引出三個接線端子，如下圖3、圖4所示。

其等效電路圖如圖5所示：
       假設(shè)A，B相間某一電容器其絕緣等級降低。圖6是A、B相間的等效電路圖。
       其中R為絕緣等級降低電容的等效電阻。等效電阻R是一個可變的動態(tài)電阻。電容器在被擊穿過程中，電容會產(chǎn)生焦耳熱，焦耳熱的表達式為：
       因R動態(tài)電阻是有大變小，時間越長，產(chǎn)生的熱量越多。在一段時間內(nèi)電容已經(jīng)積聚一定的熱量，使電容發(fā)熱膨脹。當(dāng)電容有過大的漏電電流或瞬間擊穿時，電容器會在很短時間內(nèi)產(chǎn)生更大的熱能，造成電容爆裂，原來積聚在電容器內(nèi)的瀝青氣體會迅速向外擴散，對周邊的器件造成熏黑。